招待講演

総数１３件

  1. 韓国包装技術研究会（ソウル）
  2. Akira Kawai,
    Nano- Porous Structure in Polymer Micro Pattern Analyzed by Atomic Force Microscopy,
    The 1st Annual World Congress of Nano-S&T 2011, Dalian, China.
  3. 韓国包装技術研究会（ソウル）
  4. Akira Kawai,
    “Fluid control MEMS composed with polymer materials”,
    International symposium on materials & processes for advanced giga-bit-scale lithography 2011, Chiba, Japan (2011). Invited.
  5. 韓国包装技術研究会（ソウル）
  6. Akira Kawai,
    “Adhesion and removal of micro bubbles on ArF excimer resist surface”,
    International symposium on materials & processes for advanced giga-bit-scale lithography 2005, Chiba, Japan (2005). Invited.
  7. Akira Kawai,
    ”Adhesion and cohesion properties of micro condensed matter analyzed by atomic force microscope (AFM)”
    2004 Beijing International Bonding Technology Symposium (CSB2004)Invited.
  8. Akira Kawai,
    “Cohesion property of resist pattern surface analyzed by tip indentation method”,
    International symposium on materials & processes for advanced giga-bit-scale lithography 2004, Chiba, Japan (2004). Invited.
  9. otaka Endo, Akira Kawai,
    ”Micro bubbles capturedby micro defect on flat substrate”
    2004 Beijing International Bonding Technology Symposium (CSB2004)Invited.
  10. Akira Kawai,
    “Cohesion property of resist micro pattern analyzed by using atomic force microscope (AFM)”,
    International symposium on materials & processes for advanced giga-bit-scale lithography 2003, Chiba, Japan (2003). Invited.
  11. 河合　晃、
    「接着の科学と技術の将来を考える」、
    日本接着学会40周年記念事業　パネルディスカッション、講演要旨集、ｐ１１７、平成１６年。
  12. 河合　晃、
    「原子間力顕微鏡を用いた相互作用力の解析（高分子微小固体の付着・凝集性）」、
    第５０回高分子学会年次大会　若手招待講演、大阪国際会議場、ⅢB04IL*, 高分子学会予稿集、vol.50, No.1, ｐ９４、(2001).
  13. 河合　晃、
    「原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）を用いた材料表面間の相互作用力解析」、
    日本接着学会　進歩賞受賞講演、つくば国際会議場、日本接着学会第３７回年次大会講演予稿集、ｐ６１－６４、平成１１年。