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目次研究風景 学会風景 イベントその他

研究風景

居室での議論

居室での議論

走査型電子顕微鏡による解析

走査型電子顕微鏡による解析

先輩によるCVD装置のオペトレ

先輩によるCVD装置のオペトレ

ボンディングテスタによる剥離試験

ボンディングテスタによる剥離試験

原子間力顕微鏡による高分子材料解析

原子間力顕微鏡による高分子材料解析

クリーンルーム内でのデバイス作製

クリーンルーム内でのデバイス作製

有限要素法による解析

有限要素法による解析

接触角計による濡れ性解析

接触角計による濡れ性解析

流体制御MEMS(テクノミュージアム展示)

流体制御MEMS(テクノミュージアム展示)

流体制御MEMS

流体制御MEMS

Si(100)単結晶表面への異方性曲線エッチング

Si(100)単結晶表面への
異方性曲線エッチング

XPSによる固体表面状態解析

XPSによる固体表面状態解析

単結晶のCMP研磨実験

単結晶のCMP研磨実験

紫外線によるパターン転写

紫外線によるパターン転写

流体制御用シート

流体制御用シート

光学顕微鏡によるパターン解析

光学顕微鏡によるパターン解析

粗さ計による膜厚測定

粗さ計による膜厚測定

マイクロ燃料電池システム

マイクロ燃料電池システム

超音波駆動型マイクロ人工心臓

超音波駆動型マイクロ人工心臓

原子間力顕微鏡(AFM)によるデバイス観察

原子間力顕微鏡(AFM)によるデバイス観察

RFマグネトロンスパッタ装置による薄膜作成

RFマグネトロンスパッタ装置
による薄膜作成

光、RF、ECR-CVD装置

光、RF、ECR-CVD装置

CVD-スパッタ マルチチャンバー

CVD-スパッタ マルチチャンバー

RFマッチング

RFマッチング

露光室:イエロールーム(クラス1000)

露光室:イエロールーム(クラス1000)

レジスト膜のスピンコーティング

レジスト膜のスピンコーティング

デザインマスク乾板の作製

デザインマスク乾板の作製

ワイヤーボンディング(超音波ウェッジ:Al線)

ワイヤーボンディング
(超音波ウェッジ:Al線)

全反射型XPS分析装置

全反射型XPS分析装置

人口気象器によるバイオ実験

人口気象器によるバイオ実験

超撥水制御

超撥水制御

CF4、O2、N2 Ar RIEエッチング装置

CF4、O2、N2 Ar RIEエッチング装置

電子ビーム蒸着・抵抗加熱蒸着装置

電子ビーム蒸着・抵抗加熱蒸着装置

Si デバイスの電子ビームアニール実験

Si デバイスの電子ビームアニール実験

電気炉・酸化炉・アニール炉

電気炉・酸化炉・アニール炉

XPSによる表面F原子の結合状態解析

XPSによる表面F原子の結合状態解析

X線回折装置による固体結晶構造解析

X線回折装置による固体結晶構造解析

蛍光X線分析による微量元素の定量解析

蛍光X線分析による微量元素の定量解析

工業用X線CT解析装置(分解能7μm)

工業用X線CT解析装置(分解能7μm)

X線CTによるデバイス構造解析

X線CTによるデバイス構造解析

有限要素法によるデバイス変形解析

有限要素法によるデバイス変形解析

縮小露光装置(自作)によるマスク合わせ

縮小露光装置(自作)によるマスク合わせ

微小サンプルのスピンコート

微小サンプルのスピンコート

ナノインプリント装置(UV照射型)

ナノインプリント装置(UV照射型)

O2アッシング装置によるレジスト除去

O2アッシング装置によるレジスト除去

アッシングチャンバー内部 3インチ用

アッシングチャンバー内部 3インチ用

FT-IRによる分子構造解析

FT-IRによる分子構造解析

サーモビュアによる温度分布解析

サーモビュアによる温度分布解析

高速度カメラによる高速現象解析

高速度カメラによる高速現象解析

 

Ge単結晶型FTIR-ATRシステム

Ge単結晶型FTIR-ATRシステム

偏光機能付きFTIR-RAS測定システム

偏光機能付きFTIR-RAS測定システム

気中/液中両用の引張り試験機

気中/液中両用の引張り試験機

UV可視紫外分光(190~900nm)

UV可視紫外分光(190~900nm)

うなり振動型地震センサ

うなり振動型地震センサ

タイガー製 回転計算機

タイガー製 回転計算機

流体制御型MEMS

流体制御型MEMS