実用化技術のご紹介

河合研究室では、デバイスプロセス技術に関して、数々の実用化技術を開発してきています。

解析・評価技術としての社内導入、あるいは分析・評価機器として装置開発をご検討いただける場合は、河合までお知らせください。

  1. 原子間力顕微鏡（AFM)を用いた微小固体の付着力解析技術
  2. 原子間力顕微鏡（AFM)を用いた固体の表面硬化層解析技術
  3. 原子間力顕微鏡（AFM)を用いた微粒子の凝集性解析技術
  4. 固体の表面形状制御による液体の濡れ性制御技術